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Equipamentos

publicado 04/09/2019 17h31, última modificação 14/10/2020 14h19

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1. Microscópio Eletrônico de Varredura (Zeiss, modelo EVO MA 15)

microscopio eletronico de varredura.jpegMicroscópio eletrônico de varredura, com filamento de tungstênio e câmara para amostras de até 250 mm de diâmetro e massa de 500 g com movimento total do estágio (XYZ e inclinação) ou 2 kg com movimento em XYZ ou 5 kg como movimento apenas em XY.

Para formação de imagem o microscópio está equipado com os seguintes detectores:

- Elétrons secundários (SE) em alto vácuo (HV)

- Elétrons secundários (SE) em pressão variável (VP)

- Elétrons retroespalhados (BSE).

O equipamento também conta com os seguintes detectores (Oxford Instruments) para a microanálise química:

- EDS X-Max de 20 mm²;

- WDS IncaWave 500 com cristais LiF(200), PET, TAP, LSM80N e LSM80E (cristal adicional otimizado para a análise de nitrogênio).

Como infraestrutura auxiliar à preparação de amostras, o laboratório dispõe de um equipamento Quanta Quorum Q150R ES para recobrimento, com ouro ou carbono, de materiais não condutores.

 

2. Difratômetro de Raios-X (Shimadzu, modelo XRD-7000)

                               Difratômetro de raios-X com movimentação do tubo e do detector de raios-X e com amostra fixa na horizontal, o que facilita a operação com amostras não consolidadas. O sistema também pode operar com detector fixo em ângulos rasantes fixos (para análise de superfícies e/ou filmes) e detector móvel.

Fonte de 60 kV e 3 kW de potência e tubos geradores de raios-X de Cobre (para análise de fases) e Cromo (para tensões residuais).

Possui acessórios/configurações para:

- rotação de amostra em torno do eixo Z (vertical) para análise de textura;

- inclinação da amostra para medida de tensão residual ou movimento combinado do emissor (tubo) e detector de raios-X para simular inclinação da superfície da amostra.

Para a busca e identificação de fases o laboratório conta com uma base de dados ICDD PDF-2, lançada em 2012, que pode ser acessada pelos usuários no próprio local.

 

3. Microscópio Confocal (Olympus, modelo FV1200)

microscopio confocal.jpeg

O microscópio confocal de varredura laser Olympus FV-1200 possui lasers de comprimentos de onda de 405, 458, 488, 515, 543 e 635 nm, uma fonte de luz ultra violeta e uma de luz branca (essa última apenas para transmissão). Permite a captura digital de imagens confocais de diferentes planos da amostra, possibilitando reconstruir imagens 3D sub-micrométrica através de varredura XYZT (T = tempo) com incremento mínimo de 10 nm. Possui objetivas de 10x, 20x e 40x em ar e de 60x com imersão em óleo, as quais levam a aumentos nominais de 100, 200, 400 e 600x, respectivamente.  A íris presente no sistema possui diâmetro variável entre 50 e 3000µm. O software permite análise de intensidade de fluorescência, área a perímetro medido, e tempo de exposição.

Possui três fotomultiplicadoras internas para a detecção de fluorescência e uma externa para a detecção de luz transmitida. Por meio do sistema automático de varredura da superfície é possível obter imagens bidimensionais da fluorescência de amostras dos mais diversos tipos.

 

4. Interferômetro de Luz Branca (Taylor Hobson, modelo Talysurf CCI Lite M12-3993-03)

Interferometro alongada

O sistema de medição por interferometria permite a medição sem contato de diversos parâmetros de rugosidade (2D e 3D), bem como da espessura de camadas ou na avaliação de alterações superficiais produzidas por processos de desgaste, desde superfícies muito rugosas até um acabamento super polido. Possui captura digital de imagem, contando com objetivas de 5x, 20x e 50x, que levam a aumentos nominais de 50, 200, 500x, respectivamente.

Os resultados das medidas podem ser exportados em formato não filtrado para processamento matemático externo ou analisados nos próprio equipamento, utilizando o software MountainsMap ®. A versão do software presente no equipamento permite, por exemplo, a aplicação de filtros, nivelamento do perfil obtido e análise de parâmetros descritos em diversas normas. Quando a transparência do material analisado for um problema para análise o equipamento de metalização de amostras pode ser utilizado adequar a refletividade da superfície.